環(huán)境類(lèi)可靠性試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)闡述，恒溫恒濕試驗(yàn)箱 ，鹽霧測(cè)試機(jī)，冷熱沖擊試驗(yàn)箱
一、概況

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。 
我國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國(guó)標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.

二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng)： 
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10588-89 長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問(wèn)題 
1）適用范圍 
在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠(chǎng)家，對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠(chǎng)檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。 
2）適應(yīng)性 
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對(duì)應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可出廠(chǎng)。 
3）操作性 
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過(guò)程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí)，該類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠(chǎng)也應(yīng)用較多。 
4）修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處 
九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

3、貫徹執(zhí)行過(guò)程中的注意事項(xiàng) 
1）對(duì)基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項(xiàng) 
A）溫度：15℃~35℃ 
B）相對(duì)濕度：不大于85%RH 
C）大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa 
D）熱輻射：無(wú)陽(yáng)光起直射，無(wú)熱源直接輻射 
E）氣流：無(wú)強(qiáng)烈氣流，需要時(shí)不可直接吹到箱體上 
F）電磁場(chǎng)：無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng) 
G）三廢：無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) 
H）冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa 
I）加濕水源：電阻率不低于500Ωm 
J）電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz 
2）負(fù)載要求： 
A）負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等（鹽霧試驗(yàn)除外） 
B）負(fù)載條件： 
-------負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3 
-------負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5 
-------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3 
-------鹽霧試驗(yàn)設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊（1~2）mm 
-------種類(lèi)：金屬 
-------樣品數(shù)：160塊/m2（工作室水平面面積計(jì)）

三、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（氣候試驗(yàn)設(shè)備） 
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng)： 
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 
2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問(wèn)題 
1）標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定，檢測(cè)儀器的選用，以及檢定條件、測(cè)試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 
2）適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。 
3）操作性：本類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠(chǎng)應(yīng)用為少。 
3、貫徹執(zhí)行過(guò)程中的幾個(gè)注意點(diǎn)： 
1）各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。 
2）對(duì)于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用 
3）檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。 
4）負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。 
 
四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

對(duì)照內(nèi)容 設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 方法標(biāo)準(zhǔn) 
適用范圍 產(chǎn)品的出廠(chǎng)檢驗(yàn)及型式檢驗(yàn)與質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn) 試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定 
環(huán)境條件  
具有一致性 
負(fù)載條件 有三項(xiàng)要求（鹽霧試驗(yàn)箱例外） 按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定 
檢驗(yàn)項(xiàng)目 對(duì)生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)（包括標(biāo)志、包裝、儲(chǔ)存） 按試驗(yàn)方法要求對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn) 
受檢對(duì)象 生產(chǎn)線(xiàn)上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品 外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無(wú)明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常 
檢驗(yàn)類(lèi)型 型式檢驗(yàn)、出廠(chǎng)檢驗(yàn)、仲裁檢驗(yàn) 周期檢驗(yàn) 
檢驗(yàn)結(jié)果分類(lèi) 合格、不合格、批合格、批不合格 合格、準(zhǔn)用、停用 
結(jié)果處理 合格出廠(chǎng)、不合格不準(zhǔn)出廠(chǎng)批不合格、逐臺(tái)檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓 合格—發(fā)合格證（或部分合格限使用范圍）
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證

五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類(lèi)，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)一類(lèi)設(shè)備，可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求，對(duì)設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí)，可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

 
試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)  
檢定方法標(biāo)準(zhǔn) 
代號(hào) 名稱(chēng) 代號(hào) 名稱(chēng) 
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫 GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 
GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 
GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca：恒定濕熱 GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱 
GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱 
GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉 
GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb：交變鹽霧 
GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn) GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法